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Medição de Espessuras de Revestimentos


Série K



O equipamento de Fluorescência de Raios-X da Série K tem uma ampla área de medição e um chassis versátil adaptável a vários tipos de aplicações, tendo sido desenvolvido para departamentos de qualidade que lidam com uma vasta gama de amostras e com características distintas. Com um design moderno e visibilidade de amostras melhorada, este equipamento XRF é facilmente acessível a novos mercados e as mais variadas metodologias de análise elementar.



 

Série L XRF



A Série L é o instrumento mais versátil da Bowman. Ele combina todos os recursos da Série P com uma câmara de amostra maior e maior deslocamento da platina XY. Para amostras maiores que ~12 polegadas (300 mm) em qualquer direção, a Série L é indispensável.



 

Série M XRF



A série M é o máximo em medições de espessura de chapas de alto desempenho para os menores recursos. A óptica policapilar da Série M é mais avançada do que a Série O, focalizando o feixe de raios-x até 7.5 μm FWHM.