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Série L XRF


Família:

Análise de Raios-X

Divisão:

Medição de Espessuras de Revestimentos

Marca:

BOWMAN

Sectores:

Materiais, Metais e Ligas Metálicas



A Série L é o instrumento mais versátil da Bowman. Ele combina todos os recursos da Série P com uma câmara de amostra maior e maior deslocamento da platina XY. Para amostras maiores que ~12 polegadas (300 mm) em qualquer direção, a Série L é indispensável.



O grande estágio e curso da amostra permite que peças grandes ou grandes acessórios de amostra que contenham várias peças sejam medidos. A câmara é totalmente fechada e comporta amostras de até 22" (550 mm) x 24" (600 mm) x 13" (330 mm) (CxLxA). A distância de deslocamento da platina XY é de 10″x10″ (254 mm x 254 mm).

A configuração padrão inclui um conjunto de colimador múltiplo de 4 posições e uma câmera de foco variável para medir áreas rebaixadas. Assim como em outros modelos, os tamanhos dos colimadores e as distâncias focais são personalizáveis. O estágio XY programável está incluído, mas pode ser removido para permitir a capacidade máxima de altura da amostra (altura z de 10" (254 mm) com estágio, 13" (300 mm) sem). Um detector SDD está incluído, junto com nosso tubo de raios X de microfoco de longa duração.

Faixa do elemento Alumínio 13 a urânio 92
Excitação de raios-X: 50 W (50kV e 1mA) microfocado com tubo anódico
Detector: Detector de estado sólido de silício com resolução de 190eV ou melhor
Número de camadas e elementos de análise : 5 camadas (4 camadas + base) e 10 elementos em cada camada com análise de composição de até 25 elementos simultaneamente
Filtros/Colimadores: 4 filtros primários / 4 colimadores motorizados
Profundidades focais: Profundidades focais fixas múltiplas com laser
Processamento de pulso digital: Analisador multicanal digital 4096 CH com tempo de conformação flexível; processamento automático de sinal, incluindo correção de tempo morto e correção de pico de fuga
Computador: Processador Intel, CORE i5 3470 (3,2 GHz), 8 GB de memória DDR3, Microsoft Windows 10 Prof, equivalente a 64 bits
Óptica da câmera: 1/4″ (6 mm) CMOS-1280 × 720 resolução VGA
Ampliação de vídeo: Micro 30X e Zoom Digital 7X: Padrão; 55X Micro: Opcional
Fonte de energia: 150 W, 100-240 volts, com faixa de frequência de 47 Hz a 63 Hz
Ambiente de trabalho: 50°F (10°C) a 104°F (40°C) e até 98% UR, sem condensação
Peso: 110kg
XY programável: Tamanho da mesa: 254mm (10″) x 254mm (10″) | Curso: 254mm (10″) x 254mm (10″)
Dimensões internas: Altura: 280mm (11″), Largura: 550mm (22″), Profundidade: 600mm (24″)
Dimensões externas:
Altura: 750mm (30″), Largura: 700mm (28″), Profundidade: 750mm (30″)

Os equipamentos XRF têm inúmeras aplicações para análise de espessura de revestimento para:

 



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