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Análise de Raios-X

Análise de Raios-X

A fluorescência de raios-X (XRF) é uma técnica versátil para estudos qualitativos e quantitativos em diversas aplicações, que engloba analisadores XRF clássicos para avaliações elementares, analisadores de espessura de revestimentos metálicos para controlo da qualidade, micro XRF para análise de objetos irregulares e/ou não homogéneos e XRF portátil para análise em campo. Outras técnicas são a microscopia de raios-X 3D para imagens detalhadas e a difração de raios-X (XRD) para avaliação estrutural. Estas soluções oferecem precisão e versatilidade para aplicações industriais e científicas.