
Análise de Raios-X
Micro Fluorescência de Raios-X
BRUKER AXS
Materiais, Metais e Ligas Metálicas
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Velocidade da plataforma de até 100 mm/s |
O mapeamento pode ser realizado “em tempo real” com tempos de permanência de até 1 ms por pixel. |
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SDDs de 30 mm² ou 60 mm² com ≤145 eV |
O M6 JETSTREAM pode ser equipado com diferentes detectores Bruker XFlash®, todos especificados com ≤145 eV em Mn Kα. |
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Inclinação de ±10° no modo de medição vertical |
Além da inclinação de 90° entre a medição horizontal e vertical, a plataforma pode ser inclinada em pequenos passos para se ajustar a superfícies inclinadas. |