M4 TORNADO PLUS

Família:

Análise de Raios-X

Divisão:

Micro Fluorescência de Raios-X

Marca:

BRUKER AXS

Sectores:

Materiais, Metais e Ligas Metálicas

Com o mais recente modelo da família micro-XRF da Bruker, pode descobrir mais sobre a sua amostra do que o XRF alguma vez lhe mostrou. Com os seus detetores de elementos superleves, o M4 TORNADO PLUS é o primeiro scanner micro-XRF capaz de medir qualquer elemento a partir do carbono. Além disso, o desempenho de todos os elementos leves é significativamente aumentado.

Especificações

Tipos de amostras	Sólidos, partículas, líquidos
Tamanho da câmara de amostra	W x D x H: 600 mm x 350 mm x 260 mm
Palco	L x P: 330 mm x 170 mm, carga máxima: 7 kg
Atmosfera de medição	Ar ou vácuo ajustável com bomba sem óleo, 2 mbar em ~3 min, sistema opcional de purga de hélio
Exemplo de viagem	Deslocamento máximo: L x P x A 200 mm x 160 mm x 120 mm Deslocamento de mapeamento: L x P 190 mm x 160 mm Velocidade de deslocamento: até 100 mm/s com estágio TurboSpeed
Exemplo de visualização	Duas imagens simultâneas ao vivo vistas de cima com diferentes ampliações para visão geral da amostra e posicionamento preciso, câmara lateral fisheye para visão geral da câmara de amostra
Excitação	1.º tubo: tubo de raios X de alto brilho e microfoco leve com ótica de raios X policapilar e sistema de gestão de abertura (AMS) Material alvo: Rh (opcionalmente Ag) Parâmetros do tubo: 50 kV, 30 W Tamanho do ponto: < 20 μm para Mo Ka (17,5 keV) com lente policapilar Filtros: 8 filtros de excitação 2.º tubo opcional: tubo de raios X de foco fino com colimador de quatro posições de 0,5 mm a 4,5 mm Material alvo: W (opcionalmente Rh, Mo, Cu, Cr) Parâmetros do tubo: 50 kV, 40 W Filtros: 8 filtros de excitação
Detecção	Detetores de desvio de silício superleves XFlash®, deteção de C a Am, utilização simultânea de dois detetores Área sensível: 2 x 60 mm2 Resolução energética: < 145 eV a uma taxa de contagem de entrada de 600 000 cps Rendimento: até 550 000 cps de taxa de contagem de saída
Controlo de equipamento	PC de última geração com sistema operativo Windows® Controlo total dos parâmetros do tubo, filtros, microscópios óticos, iluminação da amostra e posicionamento da amostra
Avaliação espectral	Identificação de picos, correção de artefactos e ruído de fundo, cálculo da área dos picos, quantificação de FP, quantificação calibrada com modelos baseados em padrões e sem padrões utilizando o XMethod
Análise de distribuição	Medição “em tempo real”, capacidade HyperMap
Apresentação dos resultados	Resultados da quantificação, avaliação estatística, distribuição de elementos (varredura linear, mapeamento)
Requisitos de alimentação	100 - 240 V (1P), 50/60 Hz
Dimensões	W x D x H: 815 mm x 680 mm x 580 mm, 130 kg*
Qualidade e segurança	DIN EN ISO 9001:2015, certificação CE, certificação UKCA; Sistema totalmente protegido contra radiação; radiação < 1 μSv/h

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