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D8 ADVANCE


Família:

Difratometria de Raios-X (XRD)

Divisão:

XRD Avançada

Marca:

BRUKER AXS

Sectores:

Ambiental, Clínica e Forense, Geologia e Minas, Investigação e Ensino



Dispõe de mais de 10.000 combinações possíveis de fontes de raios X, sistemas óticos, porta amostras e diferentes detetores de raios X. Existe sempre a configuração adequada. O projeto modular permite uma mudança de configuração fácil e direta. As capacidades analíticas podem ser expandidas ou simplificadas. Pode ser adquirido um sistema simples e mais tarde realizado o seu upgrade. Todos são capazes de realizar uma série de aplicações completas: identificações qualitativas e quantitativas de fase, soluções da estrutura de cristais das amostras em pó, determinação do tamanho do cristal, etc.




Soluções Gerais

D8 ADVANCE Eco

D8 ADVANCE Eco

Full-sized goniometer class powder XRD under ambient and non-ambient conditions.

D8 ADVANCE Twin

D8 ADVANCE Twin

Best powder XRD performance with push-button switching to amorphous and polycrystalline thin-film analysis under ambient and non-ambient conditions.

D8 ADVANCE Plus

D8 ADVANCE Plus

The perfect XRD solution for all samples including epitaxial thin films under ambient and non-ambient conditions.


Soluções Dedicadas

D8 ADVANCE for XRD²

D8 ADVANCE for XRD²

State-of-the-art XRD² solutions enable data collection in both 2Theta and Gamma direction to provide additional information about the properties of crystalline samples.

D8 ADVANCE for Stress

D8 ADVANCE for Stress

Rely on expert XRD solutions for measuring stress and texture in machined parts, bulk and thin film samples.

D8 ADVANCE for Structure Analysis

D8 ADVANCE for Structure Analysis

Extract structural information by applying X-Ray Powder Diffraction (XRPD) including Rietveld (TOPAS) analysis, diffuse or "total" scattering (PDF analysis), and Small Angle X-Ray Scattering (SAXS).